Analyses, mesures physiques et spectroscopique optique
- Luminescence : Spectromètre Fluorolog FL3-22 (Horiba JobinYvon)
- Polarimétrie : Polarimètre P-2000 (Jasco)
- Dichroïsme Circulaire : Spectromètre J-810 (Jasco)
- Analyses élémentaire CHN : Flash 2000 (ThermoFisher)
Mécanique
- Perceuses à colonne
- Machine à jet d’eau haute pression (pour découpes)
- Scie circulaire (pour découpe aluminium et composites)
- Fraisage conventionnel et commandes numériques
- Logiciel dessin industriel
- Imprimante 3D (pour matériaux composites)
- Tournage conventionnel et commandes numériques
Radiocristallographie
- Diffractomètre 4-cercles à détecteur à pixels PHOTON III (Bruker)
- Diffractomètre 4-cercles à détecteur bidimensionnel CCD Kappa APEX II DUO IμS (Bruker)
- Stéréo microscope M125 à lumière polarisée (Leica)
- Microscope binoculaire WILD M5
- Postes de travail avec programmes de résolution et d’affinement des structures
- Accès à la base de données cristallographiques CSD (Cambridge Structural Database) et ICSD (Inorganic Crystal Structure Database)
RMN
- Spectromètre Avance III HD – 300 MHz (Bruker)
- Spectromètre NEO – 400 MHz (Bruker)
- Spectromètre NEO – 500 MHz (Bruker)
- Spectromètre Avance III HD – 500 MHz (Bruker)
- Spectromètre NEO – 600 MHz (Bruker)
- Spectromètre NEO – 500 MHz (Bruker)
- Spectromètre NEO – 400 MHz (Bruker)
- Spectromètre NEO – 500 MHz (Bruker)
RMN du solide
- Spectromètre Avance III HD – 750 MHz (Bruker)
- Spectromètre Avance III HD – 500 MHz (Bruker)
- Spectromètre Avance III – 500 MHz (Bruker)
- Spectromètre Avance I – 300 MHz (Bruker)